測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
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新聞資訊
News時間：07-01 2023 來自：祥宇精密
測長儀是一種用于精確測量和定位物體長度的設備。是科學和工程領域中重要的技術手段之一，而測長儀則是其中一種常見的測量設備。它利用高精度傳感器和先進的測量算法來實現對物體長度的精準測量和定位。測長儀通常由測量主機、傳感器、顯示屏等組成，結構緊湊且易于操作。
一、測長儀的工作原理
測長儀的工作原理基于光學、機械或電子的測量方式。其中，光學測長儀利用激光干涉、角度測量等原理進行測量；機械測長儀通過機械零件的移動來測量長度；電子測長儀則利用電子傳感器測量物體的位移和變形。這些原理都能夠提供高精度和可靠的測量結果。
二、測長儀的使用方法
1. 準備工作：確保測長儀處于正確的校準狀態，清潔測量主機和傳感器表面；
2. 放置物體：將待測物體放置在測量臺上，確保穩定且與測量軸線垂直；
3. 開始測量：按下測量按鈕或啟動測量程序，測長儀將自動進行測量，并在顯示屏上顯示結果；
4. 數據處理：根據需要，對測量結果進行進一步的數據處理和分析。
三、測長儀的應用領域
測長儀廣泛應用于制造業、科研實驗室、質檢部門等多個領域。以下是一些常見的應用案例：
1. 制造業：用于產品尺寸檢測、零件加工精度控制等；
2. 科研實驗室：用于材料性能測試、納米級尺寸測量等；
3. 質檢部門：用于產品質量把關、生產過程監控等。
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